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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀中國代理

OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。標準儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀中國代理

OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。標準儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000S

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000S，粒徑測量儀，ZETA電位儀
OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000ZS

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000ZS，粒徑測量儀，ZETA電位儀
OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀
OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀 ELSZneoSE

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀 ELSZneoSE、ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀
OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZneo

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZneo，粒徑測量儀，ZETA電位儀
代理OTSUKA大塚電子半導(dǎo)體SIO測厚儀OPTM-F3

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導(dǎo)體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測

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